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      用于材料研究的電動顯微鏡平臺

      簡要描述:Axio Imager 2用于材料研究的電動顯微鏡平臺擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

      • 產品型號:Axio Imager 2
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2025-02-12
      • 訪  問  量:1887
      詳細介紹
      品牌ZEISS/蔡司產地類別進口
      應用領域醫療衛生,生物產業,建材/家具,電子/電池,綜合

      Axio Imager 2用于材料研究的電動顯微鏡平臺

      產品詳情:


      用于材料研究的顯微鏡系統將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質量檢驗和流程控制中提供精準且可重復的結果。


      Axio Imager 2 擁有出色的光學鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預設條件和可重復的結果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

      從四種不同的主機架中選擇您需要的系統,并借助專業解決方案擴展應用:Particle Analyzer、關聯顯微系統或 LSM 700。


      用于材料研究的電動顯微鏡平臺


      特點:

      • 具有超高對比度和分辨率的出色光學系統

      • 模塊化主機設計,利用一系列電動和編碼組件增強靈活度

      • 穩定的主機和無振動的工作環境能夠確保觀測結果的可重復性

      • 使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進行升級

      • 在關聯顯微系統的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2

      • 在質量檢驗和流程控制中,自動化功能可確保重復檢測結果的精準

      觀察方式選擇

      研究和檢測不同材料。分析金屬結構、復合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。

      多種觀察方式可供選擇,以獲得更多豐富的信息。使用反射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、圓微分干涉(C-DIC)、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光,在明場、暗場、微分干涉(DIC)、偏光或圓偏光下檢測樣品。

      觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設置可復制。

      人體工學設計

      出眾的表面應用

      Axio Imager.Z2m 或Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關鍵操作功能,使用指尖控制所有電動組件。

      其他控制按鈕依照人體工程學方式排列在調焦驅動裝置周邊,可通過觸覺輕易的區分各控制按鈕。

      Axio Imager.D2m 有 5個預編程按鈕,而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。


      熱顯微技術

      Linkam 熱臺 - 靈活記錄溫度變化

      您是否想研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響?

      結合 AxioVision 成像軟件和 Linkam 熱臺便可定制您的加熱或制冷實驗。在時間序列中顯示溫度值。每幅時間序列圖像中記錄了溫度和真空數據。例如在質量控制應用領域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。

      家具木材表面結構,暗場

      根據 Barker 偏光相襯技術觀察陽極氧化的 AlNi3.5

      液晶



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